물질 내부 미세구조와 원자단위 결함을 동시에 관찰할 수 있는 X선 현미경 기술을 국내
연구진이 개발하는데 성공했습니다.
포스텍에 따르면 신소재공학과 제정호 교수와 이재목 박사팀은 방사광 X선을 이용해
'밝은-장 X선 영상 현미경 기술'을
세계 최초로 개발했다고 밝혔습니다.
제정호 교수 연구팀이 개발한 차세대 현미경
기술은 '회절-X선 그림자 효과'라 불리는
투과와 회절 효과의 동시 관찰이 가능한 원리를 규명한 것으로,
물리학 분야의 세계적인 권위지인
'국제응용물리 레터지' 최신호에 표지논문으로
선정됐습니다
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